Технология выявления детей группы риска по наличию синдромальной формы аутизма и умственной отсталости – синдрома FXS [Текст]
// Дефектология. - 2019. - № 2. - С. 11-20 : табл., рис. - Библиогр.: с. 19-20 (24 назв.)
Рубрики: Образование. Педагогика
Дефектология. Специальные школы
Кл.слова (ненормированные):
Мартина-Белл синдром -- аутизм -- диагностика -- психоречевое развитие -- расстройства аутистического спектра -- синдром Мартина-Белл -- синдром умственной отсталости -- скрининг -- умственная отсталость
Аннотация: Даны описания клинико-психологической картины нарушений при синдроме умственной отсталости, сцепленной с ломкой хромосомой X и алгоритма диагностического выявления детей группы риска по наличию синдрома FXS. Знание сочетание ядерных признаков, которые могут свидетельствовать о наличии данного генетического заболевания в расширенной семье, значительно способствует своевременной постановке правильного диагноза, первичной профилактике рождения ребенка с тяжелой формой нарушения развития.
Доп.точки доступа:
Горбачевская, Наталья Леонидовна (доктор биологический наук; профессор; ведущий научный сотрудник)
Тюшкевич, Светлана Анатольевна (кандидат психологических наук; старший научный сотрудник)
Мамохина, Ульяна Андреевна (младший научный сотрудник)
Переверзева, Марина Викторовна (аспирант)
Салимова, Ксения (младший научный сотрудник)
Данилина, Камилла Касимовна (психолог)
Научный центр психического здоровья (Москва)
Московский государственный психолого-педагогический университет. Научная лаборатория
Московский государственный психолого-педагогический университет. Научная лаборатория
Институт специального образования и комплексной реабилитации. Московский городской педагогический университет
Московский государственный психолого-педагогический университет. Научная лаборатория
Научно-практический центр детской психоневрологии (Москва)